半導體分立器件測試儀

更新時間：2018-02-24 點擊次數(shù)：437

半導體分立器件測試儀型號：CS2935

一、產(chǎn)品特點：
測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復(fù)性和一致性、工作穩(wěn)定可靠，具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。測試儀由計算機操控，測試數(shù)據(jù)可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能（圖示儀功能）。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低，在實際測試應(yīng)用中各項技術(shù)指標均可達到器件手冊技術(shù)指標及國標要求。
二、測試參數(shù)
1．二管
VF、IR、BVR
2．  穩(wěn)壓（齊納）二管
VF、IR、BV Z
3．  晶體管       Transistor（NPN型/PNP型）
      VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4．   可控硅整流器（晶閘管）
IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5．  場效應(yīng)管
IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS

6．  光電耦合器
VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
*7．三端穩(wěn)壓器
VO、SV、ID、IDV

三、測試參數(shù)范圍

晶體管

測試參數(shù)	測試范圍
I_CEO I_CBO I_EBO	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
V_CE(sat) V_BE(sat)	0.10V-30V
V_BE(V_BE(on))	0.10V-30V
h_FE	1－99999
V_(BR)EBO	0.10V-30V
V_(BR)CEO V_(BR)CBO	0. 10V-50V 50V-1499V

二管

測試參數(shù)	測試范圍
I_R	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
V_F	0.10V-30V
V_(BR)	1V-50V
	50V-1499V

穩(wěn)壓二管

測試參數(shù)	測試范圍
I_R	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
V_F	0.10V-30V
V_Z	0.10V-50V

三端穩(wěn)壓器

測試參數(shù)	測試范圍
V_O	0.10V-30V
S_V	0.10mV-1V
I_D	1uA-10mA
I_DV	1uA-10mA

MOSFET

測試參數(shù)	測試范圍
V_GS(th)	0.10V-30V
g_fs	0.1mS-1000S
R_DS(on)	10mΩ-100KΩ
V_DS(on)	0.10V-50V
I_GSS	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
I_DSS	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
I_D(on)	0-50A
V_(BR)GSS	0.1V-30V
V_(BR)DSS	0.1V-1499V

光耦

測試參數(shù)	測試范圍
V_F	0.10V-30V
I_R	1nA-100nA 100nA-1uA 1uA-100uA 100uA-10mA
V_CE(sat)	0.10V-50V
CTR	0.1%-1000%
I_CEO	與I_R參數(shù)相同
V_(BR)ECO V_(BR)CEO	0.10V-50V 50V-1499V

可控硅

測試參數(shù)	測試范圍
I_GT	10uA-200mA
V_GT	0.10V-30V
I_H	10uA-1A
I_L	10uA-1A
V_TM	0.10V-50V

四、技術(shù)指標

1、源的指標

主壓流源 (VA)

電壓：

設(shè)定范圍（V）	度
±(0~10)	±(14.6mV+0.5%set)
±(10~50)	±(73.2mV+0.5%set)

電流：

測量范圍	度
±(0-50)uA	±(244nA+0.5% set)
±(50-500) uA	±(2.44uA+0.5% set)
±(0.5-5) mA	±(24.4uA+0.5% set)
±(5-50) mA	±(244uA+0.5% set)
±(50~500) mA	±(2.44mA+0.5%set)
±(0.5~5)A（脈沖）	±(24.4mA+0.5%set)
±(5-50)A（脈沖）	±(244mA+0.5%set)

壓流源 (VB)

電壓：

設(shè)定范圍（V）	度
±(0~10)	±(14.6mV+0.5%set)
±(10~30)	±(43.8mV+0.5%set)

電流：

測量范圍	度
±(0-50)uA	±(244nA+0.5% set)
±(50-500) uA	±(2.44uA+0.5% set)
±(0.5-5) mA	±(24.4uA+0.5% set)
±(5-50) mA	±(244uA+0.5% set)
±(50~500) mA	±(2.44mA+0.5%set)
±(0.5~5)A（脈沖）	±(24.4mA+0.5%set)
±(5-50)A（脈沖）	±(244mA+0.5%set)

高壓源（HV）

設(shè)定范圍（V）	度
0~1500	±(1.22V+1%set)

*1500V時zui大輸出為5mA。

2、電壓表的指標

測漏電流

測量范圍	度
±(0~200)nA	±(2.44nA+0.5% Rdg)
±(0.2-2)uA	±(24.4nA+0.5% Rdg)
±(2-20)uA	±(244nA+0.5% Rdg)
±(20~200) uA	±(2.44uA+0.5% Rdg)
±(0.2~2)mA	±(24.4uA+0.5% Rdg)
±(2-20)mA	±(244uA+0.5% Rdg)

測試電壓

設(shè)定范圍（V）	度
±(0~10)	±(3mV+0.5% Rdg)
±(10~50)	±(15mV+0.5% Rdg)

測擊穿電壓

設(shè)定范圍（V）	度
（0~50）V/10mA	±(36.6mV+0.25% Rdg)
（50~1500）V/1mA	±(610.3mV+1% Rdg)

放大倍數(shù)

設(shè)定范圍（V）	度
1~9999	1%